Presseinformation: Fakultät für Physik nimmt ein weiteres Großgerät für die Forschung in Betrieb

Nr. 409/2005 - 01.12.2005

Focused Ion Beam: Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop und fein fokussierbarer Ionenstrahl
(pug) Die Göttinger Fakultät für Physik wird am Mittwoch, 7. Dezember 2005, ein weiteres Großgerät in ihrem Neubau auf dem Nordcampus offiziell in Betrieb nehmen: Das so genannte FIB (Focused Ion Beam), eine Kombination aus einem Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop und einer fein fokussierbaren Ionenquelle, erlaubt die Präparation von Materialproben im Nanometerbereich. Neun Arbeitsgruppen in der Materialphysik, der Röntgenphysik, der Festkörper- und Tieftemperaturphysik, der Kern- und Atomphysik und der Halbleiterphysik haben das neue Forschungsinstrument unter Federführung von Prof. Dr. Reiner Kirchheim beantragt. Von der gemeinsamen Nutzung erwarten die Wissenschaftler der Georg-August-Universität wichtige Synergieeffekte für die Forschung, aber auch für Lehre und Ausbildung. Finanziert wurde das Gerät aus Erstaustattungsmitteln, die das Land Niedersachsen für den Fakultätsneubau zur Verfügung gestellt hat.
Das Großgerät ist auch für den Sonderforschungsbereich (SFB) 602 „Komplexe Strukturen in kondensierter Materie von atomarer bis mesoskopischer Skala“ von großer Bedeutung, betont Prof. Kirchheim, der Sprecher des SFB ist. Ähnlich wie ein eng gebündelter Wasserstrahl unter hohem Druck Materialien abträgt und schneidet, dient der fokussierte Ionenstrahl beim FIB zur Materialbearbeitung in extrem kleinen Dimensionen: An den bearbeiteten Materialproben zeigen sich dabei zahlreiche Details, die nur mit einem besonders leistungsstarken Rasterelektronenmikroskop erfasst werden können. „Eine derart präzise Präparation von Proben erlaubt systematische Untersuchungen, die bis vor kurzem nicht vorstellbar waren. Bei Proben für die Elektronenmikroskopie und die Feldionenmikroskopie ist eine Zielgenauigkeit bis zu einem tausendstel Millimeter möglich. Außerdem können durch die Kombination verschiedener Techniken noch nachträglich Strukturen unterhalb der Probenoberfläche für elektrische Messungen kontaktiert werden“, erläutert Dr. Peter Wilbrandt, der für die Organisation der Gerätebeschaffung und den Aufbau verantwortlich ist. „Durch die hervorragende Zusammenarbeit aller Beteiligten von Universität, Land und der Deutschen Forschungsgemeinschaft konnte das Projekt innerhalb erstaunlich kurzer Zeit realisiert werden“, betont Dr. Wilbrandt. Beim wissenschaftlichen Betrieb von FIB wird er von den technischen Mitarbeitern Matthias Hahn, Volker Radisch und Tobias Schulz unterstützt.
Hinweis an die Redaktionen:
Das FIB wird am Mittwoch, 7. Dezember 2005, im Neubau der Physik, Friedrich-Hund-Platz 1, Raum C-1.111 offiziell in Betrieb genommen. An der Veranstaltung, die um 15.00 Uhr beginnt, werden die Antragsteller teilnehmen. Zu Fototermin und Berichterstattung sind Sie herzlich eingeladen.
Kontaktadresse:
Dr. Peter Wilbrandt
Universität Göttingen
Fakultät für Physik
Institut für Materialphysik
Friedrich-Hund-Platz 1, 37077 Göttingen
Telefon (0551) 39-5026, -5002, Fax (0551) 39-5000
e-mail: peter.wilbrandt@physik.uni-goettingen.de
Internet: www.physik.uni-goettingen.de